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金屬合金

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能量色散X熒光光譜儀

型號:EDX4500H
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產品說明、技術參數及配置

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管,指標達到國際先進水平
最新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然

技術參數

產品型號:EDX 4500H
產品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:30秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素)

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